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物理学进展

2015/12/20

第 35 卷 第 6 期 pp.241-256

许瑞 , 郑志月 , 季威 和 程志海
微波是整个电磁频谱非常重要的组成部分,可以与物质发生丰富的相互作用;而原子力显微术(Atomic Force Microscopy,AFM) 有超高的空间分辨率,是纳米研究的核心工具。将微波技术与AFM 结合将实现一种全新的扫描微波显微术(Scanning Microwave Microscopy,SMM)。该技术可以探测各种样品(包括导体、半导体、绝缘体及其它新型材料)在微纳米尺度的多种电学性质,如载流子类型、介电常数、电导率和导磁系数等;以及实现微纳米尺度下微波探测技术,如NMR、ESR 等,具有非常广阔的应用前景。文中综述了SMM 的基本原理,仪器组成,并介绍了其在电学性质探测、各种新型材料、生物等方面的前沿应用实例。最后,文章展望了扫描微波显微术的进一步技术发展和应用研究。
于 2016/06/16 发布 (16 页)
pp. 241-256  全文: [PDF]